内外检测一体化！蔡司入门款工业CT METROTOM 1 – 电子行业品质升级新引擎

   消费电子正广泛的深入到人们生活的各个方面，其中智能化、个性化和环保意识是当前消费电子产品发展的主要趋势，CT 检测在消费电子领域有着广泛的应用前景，一般用于产品的质量控制，性能测试和制造工艺优化等方面。 

   如何在不破坏产品外壳的前提下，利用X射线的穿透性对产品内部进行成像和检测，发现注塑产品的缺陷与损伤，确认装配体内部的装配状态与间隙，关键尺寸装配后是否发生变化。此外在快速更迭的消费电子领域，效率至上，如何大大提升处于研发阶段的产品优化效率，新产品如何更快一步上市。

   ZEISS METROTOM 1可以在不破坏产品外壳的前提下，利用X射线的穿透性对产品内部进行成像和检测，发现注塑产品的缺陷与损伤，确认装配体内部的装配状态与间隙。此外在快速更迭的消费电子领域，效率至上，CT扫描可提供全场数据，可大大提升处于研发阶段的产品优化效率。METROTOM 1的诸多优点，如非破坏性检测、高精度成像、单材料、装配体适用以及高灵敏度等特点都完美契合了对于效率和精度都提出了极高要求的消费电子领域，为电子产品的制造和质量控制提供了重要的技术支持，从而保证产品的质量和可靠性。 

   从内部，看见质量 – ZEISS METROTOM 1

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快速扫描零件并可选配ZEISS Reverse Engineering 软件进行逆向，生成被测零件的CAD模型

获取全场数据，高效展示与CAD模型偏差，并有针对性的修正模具，显著缩短修模周期，加快产品上市速度

  以较高精度检测送测的样品，高重现性确保扫描结果稳定可靠

  获 取物体内部及外部的全部特征，提供清晰的体积渲染识别不同的零部件，既可以整体评估也可以分开评估

一站式扫描解决方案，提供整个零件的全面细节

测量隐藏或者内部的特征尺寸以及内部缺陷，并根据行业标准对缺陷进行定性与定量分析

最大程度地利用测量体积，批量化扫描多个零件，自动拆分和检测。

从内部，看见质量 
ZEISS METROTOM1产品特点

揭示内部结构，实现全面分析

   支持完整的工作流程，从数据采集、CT数据导入和多边化到广泛的分析和报告。 

   我们为您提供14天免费访问ZEISS INSPECT所有功能的权限。试用期结束后，您的许可证将自动转换为软件的免费基础版本。

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