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告别耗时与损伤,蔡司Dotscan为光学加工提供高精度无损检测新方案

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:2241 发布时间:2026-1-30 QC检测仪器网

【点击跳转:https://service.zeiss.com.cn/iqs/#/retrofit-ticket】

蔡司Dotscan是光谱共焦传感器系统,最高扫描速度每秒1000个点,分辨率28~36nm,可满足磁流变加工前大部分检查要求,适用于有高精度面型测量需求的行业,实现光学产品加工中间过程的高效率无损检测。

挑战|高精度测量中的效率与成本困局

在光学加工领域,纳米级复杂曲面的最终检测通常依赖昂贵的专用设备。为保护核心资产并提升产线整体效率,制造商亟需在中间工序进行可靠的快速检测。传统接触式测量面临多重挑战,比如为保护表面只能进行单点测量,单件耗时长达数小时且数据密度不足,在应对亚微米级面型要求时较为吃力,以及功能单一,无法对透明材质进行厚度测量。

创新解决方案|蔡司PRISMO + Dotscan光谱共焦扫描系统

Dotscan是蔡司生态中的一款非接触式光谱共焦传感器。它可与现有的蔡司PRISMO三坐标测量机结合,将传统的“点”测量升级为高速“面”扫描,重塑中序检测流程。

该方案的技术优势在于:

高速扫描

最高每秒1000个测量点,速度远超单点接触。

真正无损

无需接触工件表面,适用于高光洁度、柔软或易变性材质。

厚度测量

除表面形貌外,可同步实现透明材料的厚度测量。

客户收益

在实际客户测试中,蔡司PRISMO fortis与Dotscan 1mm的组合方案表现卓越。该方案能够将中间工序的检测效率提升50%以上,直接加速了生产节拍。在提升效率的同时,保障了测量精度,提供具备亚微米级重复性的可靠数据,确保加工质量全程可控。此外,功能上实现了重要扩展,可一站式完成面型与厚度测量,并以完全非接触的方式确保对昂贵工件的无损检测。该组合还具备快速部署的优势,可便捷地在现有PRISMO测量机上集成,帮助用户迅速形成可靠的测量能力。这一方案将高端干涉仪等核心设备从繁琐的中间检测中解放出来,使其能专注于最终质检,从而提升了整体设备的投资回报率。

蔡司PRISMO与Dotscan的组合是一套针对高精度面型测量的优化策略。它有效地填补了传统三坐标测量与超精密专用仪器之间的能力空白,在确保最终产品质量的同时,最大化每一台设备的使用价值,实现了质量、效率与成本三者之间的平衡。

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