从一枚透镜的曲率，到一件吸盘的平面

从一处微米的缺陷

到一整个部件的全域数据——

超高精密零部件的每一次性能跃升
都藏在更精密的几何与表面之中

2026长春国际光电博览会

蔡司工业质量解决方案邀您共赴

一场“光学+精密”的深度融合

展会速览

长春国际会展中心 A1馆

蔡司展位：A1-B17

2026年6月12日至14日

光学透镜曲率趋势检测

高精度、不磨损

光学透镜是量测与DUV设备的关键零部件
曲率是否跑偏？粗磨是否整体变形？

ZEISS PRISMO 超高精度坐标测量机

搭载DotScan白光共聚焦测头

不损伤透镜表面，真实反映法线方向偏差

让曲率趋势，清晰可循

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真空吸盘全尺寸测量

高精度，高效率

真空吸盘是刻蚀与薄膜沉积的关键承载部件
微米级公差，多层结构

全尺寸如何快速管控？

ZEISS O-INSPECT 大型复合式测量机

集成接触式、影像与白光共聚焦测头

不损伤陶瓷表面，全尺寸精准捕获。
效率提升，一机多测头，转台自由旋转——
让质量，全数掌控

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微米级缺陷观察与测量

高倍率、一键成

工件表面复杂不平整

常规显微镜难以观察

ZEISS Smartzoom 5数码显微镜

大景深3D成像，复杂结构也能清晰观察

全电动控制，触摸屏操作

一键生成报告，简单便捷

让缺陷，无所遁形

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石英/硅类部件全域光学检测

全域扫描，反哺工艺

聚焦环、石英坩埚等耗材
全域色差、表面裂纹

传统测量无法有效反哺工艺

ZEISS ScanPort + ATOS Q

半自动化光学扫描，全域三维数据捕获

从“点测量”升级为“完整三维数据”

让工艺，有据可循

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6月，我们相约长春

在光博会的展台上

蔡司邀您一同探寻
那些透镜之内、吸盘之上的精密边界