——奥林巴斯（中国）有限公司无损检测仪部新品发布会暨相控阵新技术研讨会在京胜利召开   

    奥林巴斯（中国）有限公司无损检测仪部“测而易见·精而不凡”新品发布会暨相控阵/TOFD新技术研讨会于2013年9月6日在北京召开。

    奥林巴斯（中国）有限公司无损检测仪部部长Tommy Martel先生，副部长潘伟先生，业务拓展经理Olivier Dupuis先生及应用支持产品经理王晓宁先生等应邀出席本次新品发布会并发表讲话。

    本次新品发布会上，奥林巴斯公司面向中国市场正式推出便于携带、性价比极高的轻巧款OmniScan SX探伤仪。它带有一个便于用户阅读的8.4英寸触摸屏，用于显示，极易操作且精简的软件界面。用单组的OmniScan SX进行零度线性检测，诸如腐蚀成像和复合材料检测，以及使用单相控阵组或单TOFD通道的焊缝检测，是一种性价比很高的方案。与优异的上一代OmniScanMX2相比，OmniScan SX重量轻了33 %，体积小了50 %，具有OmniScan产品系列前所未有的便携性。本次新品的推出，再次印证了奥林巴斯公司承诺将一如既往地积极追求技术的革新和产品的发展，并始终保持世界领先地位。

           Tommy Martel先生开幕式致欢迎辞

  精彩的魔术表演：与到场嘉宾的互动环节

     OmniScan SX新品介绍及产品应用演示

      精彩魔术表演                                   副部长潘伟先生讲话