使用的重复激光处理策略可以分为两个步骤。第一步(见图1b)涉及初始激光扫描,激光功率值从10W到91W逐渐变化。第二个步骤(见图1c)是二次重复激光扫描步骤,它采用60W的恒定激光功率来重新熔化同一层。图 1 显示了用于制造梯度 NiTi 合金的重复激光加工策略的示意图和样品实物图。
图1 梯度 NiTi 合金的重复激光加工策略的示意图及样品实物图
显微CT无损检测(NDT)可以测试试样的外部形态和内部缺陷。采用nanoVoxel-3000系统对拉伸试样进行了扫描,考虑到拉伸试样的测量长度为20mm,该数据限制成像的更高分辨率的实现,因此,实验将试样分成5个部分并进行逐一扫描,以保证更好的成像质量。在此条件下,X射线源的电压和电流分别设置为150kV和40μA,曝光时间为0.4s。为了确保样本在显微CT扫描时始终在视野内,分辨率设置为3μm,使用软件完成图像重建,最后利用Avizo软件进一步重建了试样的三维(3D)结构。
图2中五张图像为每个拉伸试样沿梯度方向的连续三维重建。为方便起见,将图2所示图像的连续五部分指定为第I、II、III、IV和V部分(如图1d所示)。对于图2中的每幅图像,初始激光功率从下到上增加。在图2a中,由BD和GD定义的坐标系用红色箭头清晰标记。图2d中清晰地显示了0.4mm的梯度宽度。值得注意的是,不同部位的表面粗糙度因处理条件不同而不同。对于图2e中在较高的激光功率下制造的梯度区域,这些表面比在相对较低的激光功率下制造的表面更光滑(图2a和b)。
图3中的绿色像素代表了五个部分的三维内部缺陷的相应形态,他们之间各有差异。图3显示了缺陷沿梯度方向的形态、分布和体积分数的变化。具体来说,图3a所示的第Ⅰ部分对应于从10W+60W到25W+60W的梯度区域,缺陷形状不规则。在TD-GD平面(图4a)和TD-BD平面(图4c)的横截面上,这些不规则缺陷为平面缺陷,也沿堆积层间的TD和GD方向拉伸。考虑到图3a所示的样品对应于初始较低的激光功率,这些缺陷是由于虽然激光能量的总输入足够高,但在初始扫描过程中激光能量输入不足造成的。随着初始激光功率的增加,图3b中第II部分对应的梯度区域从27W+60W到41W+60W的缺陷体积分数相较于第I部分较小(图5中显示为0.74%)。图3c中所示的第III部分,对应于中等激光功率,确实包含最少的缺陷(图5所示0.09%)。图3c和d中较高激光功率对应的梯度区域的缺陷与其他缺陷完全不同。对于图3d中的第IV部分和图3e中的第V部分,缺陷的几何形状变小,呈球形。这种缺陷在选择性激光熔化(SLM)制造的金属中被称为“锁孔”,通常与激光功率的过量输入有关。有趣的是,与图3d底部区域激光功率相对较低、分层不那么严重的情况相比,球形缺陷的分布表现出分层现象。锁孔缺陷几乎消失在相邻梯度区域的边界,熔化区域对应的是相对较低的激光功率。因此,可以认为锁孔缺陷是由于激光功率过热的熔体池造成的。
图3 对五个拉伸试件扫描结果进行三维重建,揭示五个部分不同部位的内部缺陷
根据显微CT扫描结果,对所有缺陷的尺寸进行统计分析。三个缺陷的尺寸以图4b和图4d为例。图4c的平均缺陷长度约为0.21mm,图4d的平均缺陷长度约为0.04mm。因此,低功率形成的不规则平面缺陷比高功率形成的锁孔缺陷大近10倍。同时分析了所有五个部分的缺陷的体积分数。图5中的直方图显示了不同部分缺陷体积分数的变化。第Ⅰ部分的体积分数为2.84%,第V部分为7.09%。第III部分的缺陷体积分数是在43W~59W之间制备的,低至0.09%。这表明,在形成最少数量的内部缺陷方面,用中等的激光能量输入制造NiTi合金是可取的。
图4 用于详细描述图3a和e的截面:(a) 第Ⅰ部分GD-TD平面, (b) 第Ⅰ部分TD-BD平面, (c) 第V部分TD-BD平面, (d) 第V部分GD-BD平面
图5 功能梯度样品的缺陷体积分数