研讨会邀请

研讨会简介：

在集成电路、光伏发电、信息通讯、微电子器件、照明等领域，半导体发挥着重要作用。随着信息载体从电子向光电子和光子转换，其技术也在不断的改变和革新，人们对于半导体材料的研究并未停止。它是微电子、光电子和太阳能等工业的基石，而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量。因此，半导体的性能结构及其器件的分析，是半导体材料研究和开发的重要方面。

奥林巴斯将会有两名讲师出席，为大家进行分享。

时间：6月9日 11:30-12:00

平台：分析测试百科网

讲师及演讲题目：

夏文源

奥林巴斯工业显微镜应用工程师

分享主题：

奥林巴斯光学显微镜在半导体行业的应用

分享简介：

随着半导体技术的发展，相关电子器件和半导体材料也在加速发展。技术变革也对电子元器件和材料的研发/检测工作提出了新的要求和挑战。奥林巴斯的数码显微镜DSX1000和激光共聚焦显微镜OLS5100帮助您实现微观形貌表征和量测。另外为半导体设备厂商提供光学组件，方便集成设备，节省研发时间并保障光学质量。

谈思涵

奥林巴斯XRF应用工程师

分享主题：

HHXRF(手持式X射线荧光分析仪)在半导体行业中的应用

分享简介：

XRF是一项快速高效的检测手段， 可以在短时间内为用户提供准确的化学成分分析。奥林巴斯公司的Vanta系列手持式光谱仪，可为半导体行业客户提供相应分析检测解决方案。利用XRF技术可以对半导体设备、原料的可靠性进行确认，提升制造生产的效率并且使客户对成品更加有信心。本次报告中将会从XRF的基础开始， 分析和说明我们是如何为客户提供有效的解决方案的。

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