新款Vanta iX在线X射线荧光（XRF）分析仪现已上市。

该分析仪可以对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别，并即时提供结果，从而可对生产过程进行实时监控，并对产品进行100%无遗漏检测。

Vanta iX可以全天时、全天候（24/7）运行的分析仪，简化了金属制造和地质选矿的质量检测过程。金属制造过程需要受到全天时、全天候（24/7）的控制，以确保产品由正确的合金制造，避免出现代价高昂的材料混淆错误。

Vanta iX分析仪可以在几秒钟内提供明晰的材料成分和合金牌号信息，因此金属制造商可以此证明他们的产品经过了100%无遗漏检测和验证。分析仪可提供通过/失败结果，或完整的材料化学成分信息。在地质选矿和采矿方面，分析仪可以对岩芯进行扫查，对传送带上的矿石进行分析，并提供实时结果，以监控选矿和采矿过程中发生的变化，并确保矿石品位的一致性。

通过硅漂移探测器（SDD）和奥林巴斯业已成熟的Axon技术，这款分析仪可以对包括轻元素在内的多种金属和合金进行检测和牌号辨别。这款分析仪具有与其他Vanta系列分析仪相同的高计数率和稳定性。

Vanta iX分析仪易于安装在制造环境中：使用其两侧的安装孔就可将其安装到机器人或其他系统上。通过Vanta Connect API（应用程序编程接口）或一个PLC（可编程逻辑控制器），并借助离散导线，可以轻松控制分析仪。连接器选项包括用于以太网供电的以太网(RJ-45)、USB、离散I/O（16针）和辅助DC电源。

这款分析仪通过了振动测试（MIL-STD-810G），符合IP54评级标准，可在-10 °C至50 °C的温度范围内连续工作，可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音、灰尘和湿气的侵扰。内置散热器可以降低分析仪内部的温度，如果需要进一步冷却，还可以通过风扇连接点连接一个风扇。无需使用工具，就可以更换分析仪的窗口，从而实现快速维护的目标。

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