采用的方法：降低信号输出电阻；或者设置较大的ADCPSR值，以降低输入通道因信号输出电阻过大而产生的信号电压带来的影响；（5）ADCCON常常不正确，可能在转换开始后一个时钟周期还为1，或者仅保持到ADC转换结束前1个周期。为了正确地读取ADC转换数据，在开始AD转换之后加入while（rADCCON0x1），避免了第一种错误；在读到FLAG=1时，不要急着取转换结果，而是等待一下，通过SPI串行接口与处理器连接。它具有四路模拟输入通道和串行数据输入/输出接口电路，采用+2.7+3.6V单一电源供电，可以通过编程来控制模拟输入端口，以单端或差动输入的方式采集单极性或双极性的模拟输入信号。
    MAX1246内部有2.5V的参考电压源，通过一个内部的缓冲放大器调整参考电压，内部的逐次逼近型A/D转换电路可以通过内部时钟或者外部时钟完成模数转换。MAX1246还带有采样保持电路，使得高速变化的信号瞬态可以被捕捉到，输入信号带宽可达
    MAX1246硬件连接是S3C44B0X与MAX1246的一种硬件连接。其中，用GPE0产生片选信号，SIO直接相连，外接参考电源输入/内部参考电源输出VREF和基准电源调节端REFADJ均外接电容，关断输入端SHDN悬空，使芯片内部时钟工作频率为
    MAX1246与CPU硬件连接2.3MAX1246软件设计SPI协议规定，在CS为低时，SCLK时钟的每一个上升沿锁定DIN端的每一位进入内部移位寄存器。在代控制字的最高位逻辑/10被移入锁定之前，所有移入的逻辑/00均被视为无效。为展开的转换启动控制字节。
    控制字节格式位名称说明D7（MSB）启动当CS变低后的第一个逻辑/10被锁定，明模数转换控制字输入开始D6D5D4SEL2SEL1SEL0这三位用于选择采样转换的四个通道之一D3UIN/BIP选择单极或双极转换模式。1=单极；0=双极。在单极模式，从0VVREF模拟输入信号能被转换；在双极模式，信号范围可从-VREF/2至+VREF/2D2SGL/DIF选择单端或差动的信号输入模式，1=单端；0=差动D1D0（LSB）PD1PD0选择时钟和掉电模式：00全掉电；01快速掉电；10内部时钟模式；11外部时钟模式根据SPI接口时序，以下程序对DIN、DOUT、SCLK和CS端进行控制，发送8位控制字到MAX1246的DIN端，接收DOUT端的8位数据并返回。
    ADS1100内部结构输出编码的位数取决于转换速率，当转换速率为8SPS时，输出码位数最高为16，输出码值与PGA的增益、输出压差VIN+-VIN-，参考电压VDD的关系如下：输出码=216@PGA@VIN+-VIN-VDDADS1100有两个寄存器：输出寄存器和控制字寄存器。输出寄存器用于存放最后一次的转换结果，控制字寄存器则可以改变ADS1100的操作模式和进行状态查询。ADS1100的输出寄存器是只读的，只能向控制字寄存器写内容。写的方法是将ADS1100设置为写（在ADS1100地址后加1位低电平有效的写信号，高位在前），然后写入一个字节。操作时序如示。
    结语ARM片内ADC硬件实现方便，程序设计简单，对于如手持设备的电量监测、触摸屏的数据采集之类比较合适。同时在以上分析中我们看出它存在不少缺陷，当需要测量对象频率较高，或者为双极性时，测量精度不能得到保证，与其加入外部采样保持电路、线性运算放大电路，不如直接利用外部ADC芯片，那样在成本控制、实现难度上会更加合适。S3C44B0X支持I2C和SPI串行接口，可以直接与ADC芯片连接，无需I/O口模拟串行接口。这样不会对处理器内部使用的诸如等待状态、总线保持时间或时间速率等信号产生影响。MAX1246提高精度同时利用单电源实现双极性信号测试；ADS1100体积小、精度高，都是嵌入式仪器A/D接口设计的可以考虑的实现方法。