二维码
分享按钮
QC检测仪器网|www.qctester.com
首页: 产品中心: 资讯频道: 展会频道: 市场研究: 供求信息: 新品介绍: 企业名录: 技术文章: 检测机构
专家解答: 学会协会: 行业资料: 电子样本: 期刊书库: 资料下载: English: QC视频: QC杂志: QC访谈: 邮寄现场
注册会员 会员中心
登陆企业
仪器搜索
热门关键字: 量仪量具  无损检测  物理测试  力学测试  材料试验  光学仪器  设备诊断监测  表面处理检测  环境检测  化学分析  实验室仪器  仪表类  超声波探伤仪
您现在的位置:首页 >  热点专题  > 解锁AI电路板质量密码——蔡司聚焦离子束技术,从失效分析到工艺优化

解锁AI电路板质量密码——蔡司聚焦离子束技术,从失效分析到工艺优化

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:67 发布时间:2025-2-20 QC检测仪器网

在人工智能(AI)技术日新月异的时代,其强大的发展势能对 PCB 板(印制电路板)的质量提出了更高的要求。作为 AI服务器硬件架构的关键组成部分,PCB 板的性能与可靠性直接关系到 AI 系统的运行效率。随着AI服务器对数据处理速度和精度的要求不断提高, PCB 板的应用愈发广泛。然而,叠孔缺陷、铜残留等微观结构问题成为了阻碍其可靠性提升的关键因素。

 

 

 

 

HDI板的叠孔挑战

 

多层高阶HDI板虽具备高密度布线、超低损耗材料及热管理优势,但其复杂的叠孔工艺仍存在质量风险。

 

使用工艺

采用盲孔与盲孔堆叠的方式来实现层与层之间的导通和互连。叠孔设计,内层的盲孔必须要做一次填孔电镀。 

 

所遇挑战

由于底层铜和电镀铜的晶粒尺寸差异较大,容易出现连接缺陷,影响产品可靠性。

 

解决方案

采用FIB技术实现精准定位与分析,这种“边切边看”的实时分析模式,大幅缩短了从缺陷发现到机理验证的周期,快速完成叠孔缺陷检查。

▲ 采用FIB技术锁定盲孔底部ICD缺陷位置

 

SLP板的铜残留检测

 

SLP板具有高密度、高集成度的特点。SLP需要填充盲孔,以便后续堆叠和安装电子元件,容易出现线路均匀性不佳的问题。

 

使用工艺

采用MSAP工艺,在图形电镀下填充盲孔。

 

所遇挑战

线路中过厚的铜区域会导致夹膜,图形间的干膜无法完全去除,闪蚀后的残留的铜会造成短路。

 

解决方案

可使用蔡司Crossbeam Laser, 集成了飞秒激光、镓离子束和场发射扫描电镜,将飞秒激光与 FIB-SEM相结合,以实现快速高效的工作流程,精确定位内部缺陷位置。

方案优势

通过飞秒激光在真空环境中对样品进行加工,有效避免损伤及热影响区,且激光加工在独立的腔室内完成,不会污染FIB-SEM主腔室和探测。

 

 

蔡司聚焦离子束扫描电镜Crossbeam FIB技术赋能高效分析

 

01

高束流精度

 

100nA的束流控制能力,既可实现快速样品切割,又能保持高精度,避免传统离子束的过刻蚀问题。  

 

02

高分辨率

 

高成像分辨率,确保切割过程中实时监测微观结构变化,满足PCB微孔等精密场景的加工需求与FIB清晰成像。  

 

03

柔性电压调控

 

500V-30kV宽范围离子束加速电压,减少样品非晶化损伤。

 

04

避免磁场干扰设计

 

搭载ZEISS Gemini电子镜筒,物镜无泄漏设计,电子束和离子束可同时工作,实现比安切边。

 

欲了解更多方案与应用

欢迎报名蔡司工业显微镜电子行业

失效分析研讨会

蔡司工业质量解决方案将于

3月14日

东莞松山湖举办

 

研讨方式: 理论经验分享+上机演示

 

 

 

如有意向

请扫描下方二维码填写报名信息预约席位

报名截止时间:2025/3/2

我们会根据信息尽快与您取得联系

 相关信息

意见箱:
       
如果您对我们的稿件有什么建议或意见,请发送意见至qctester@126.com(注明网络部:建议或意见),或拨打电话:010-64385345转网络部;如果您的建设或意见被采纳,您将会收到我们送出的一份意见的惊喜!

①凡本网注明“来源:QC检测仪器网”之内容,版权属于QC检测仪器网,未经本网授权不得转载、摘编或以其它方式使用。
②来源未填写“QC检测仪器网”之内容,均由会员发布或转载自其它媒体,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接或连带责任。如从本网下载使用,必须保留本网注明的“稿件来源”,并自负版权等相关责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

热点新闻 行业资讯 政策法规
市场研究 行业资料 技术讲座
展会知识 战略合作 技术标准
展会资讯 更多 
关于举办第六届中国实验室发展大会的通
别卷了!4月22-24日NEPCON
100万+新媒体曝光,3,000+专
智汇太湖丨第45届无锡太湖国际机床及
3月12-15日 雅卓宁波机床展:聚
电子元器件行业迎新机遇,CEF深圳展
APE 2025 | 开幕倒计时 2
别只关注吨位,压铸加工后段的抛光打磨
第25届合肥制博会将于5月23日启幕
苏州国际机床展|明星机床展 超一线高
矩阵
行业资讯 更多 
铸就AI服务器质量动脉 – 高速连接
客户证言 | 真诚反馈,用心聆听
高度认可!海克斯康荣获央广网企业社会
首批!海克斯康获批国家工信部卓越级智
海克斯康获批山东省博士后创新实践基地
「ZEISS INSPECT 202
海克斯康入选2024年第三批青岛市科
以赛育人 | 海克斯康助力第三届浙江
蔡司即将亮相HKPCA电子电路展:创
海克斯康出席中国汽车工程学会年会暨展
“点亮梦想之光”青少年科教公益行进博
进博快报 | 瑞典商会领导嘉宾到访海
热销仪器
检测仪器 检验仪器 测量仪器 测试仪器 无损检测 无损探伤 材料检测 材料试验 检测材料 几何量仪器
邮箱:(E-mail)QCtester#126.com   京ICP备12009517号-5  | 京公网安备11010502024614
北京考斯泰仪器信息有限公司   电  话:(Tel)010-58440895 /   
Copyright © 2009 QCtester.com Inc.All Rights Reserved. GoogleSitemap QC检测仪器网 版权所有
检测仪器备案信息  检测仪器行业  测量仪器  检测网