《几何坐标测量技术及应用》  李明 费丽娜 著 60元

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    《几何坐标测量技术及应用》一书由上海大学李明教授和蔡司公司费丽娜历经三年时间共同编写，凝聚了蔡司在坐标测量领域40多年的研发和应用经验以及上海大学十几年的应用积累和研究。专著的内容涉及到图样规范的正确解读、测量工艺和规范制订、测量的规范操作和测量结果合格判定等方面；对接了ISO、GB和ASME相关标准，采用与传统测量对比的方法展开论述，兼顾了始终困扰企业的测量数据比对问题，是国内首本专业论述坐标测量技术及应用的专著。

    本书可以作为从事机械产品设计、制造、检测和质保人员的参考书籍，也可以成为常规测量人员和坐标测量工程师、测量人员学习和应用坐标测量技术的工具书。还可以作为高等院校、专业技术人员在精度设计和技术测量课程的教材。

    中国坐标测量领域至今在测量基础知识、标准制定及标准化测量策略、系统培训等方面十分欠缺，未来，蔡司中国将致力于为所有中国精密计量领域的用户，尤其是三坐标测量用户提供卓越的教育、培训、认证服务，为夯实中国的测量技术基础，为提升中国客户在坐标测量领域的专业性和全面性而不断努力。