第五届国际先进光学制造与检测 [学术会议第一轮通知 AOMATT 2010 ]
第五届国际先进光学制造与检测学术会议（AOMATT CHINA 2010），定于2010年4月26--29日，在中国大连召开。五湖四海，群贤毕至；浪漫之都、时尚大连。
本系列国际学术会议论文几乎百分之百为美国EI全文检索和其它著名机构检索，已属不可多得。聚世界前沿学术、技术、商务交流，实为机遇难求。
会议由往届4个专题扩展为6个专题；与SPIE合作启用toAOMATT在线投稿系统；创新管理，提高要求；以巩固本会议文集的高端国际检索地位，把AOMATT国际学术会议推向新的高度。
会议征文通知如下：
批准：中国科学技术协会/辽宁省外办
主办: 中国光学学会（COS）
中国科学院光电技术研究所(IOE)
美国SPIE国际光学工程学会
支持：国家科学技术部
中国科学院
国家自然科学基金委员会
承办: 中国光学学会光学制造技术专委会
名誉主席：王大珩 会议主席：周炳琨
共主席：
曹健林 科学技术部副部长
张雨东 中国科学院光电技术研究所所长
James C. Wyant, 亚利桑那大学光学中心主任(USA)
会议论文集（SPIE Proceeding）由美国国际光学工程学会2010年出版，EI全文检索。
现向国内外诚征会议论文摘要和论文正文。
会议六个专题： 第1专题 大型光学望远镜与主镜技术
第2专题 先进光学制造技术
第3专题 现代光学检测与装备
第4专题 微纳光学装置与系统设计、制造与检测
第5专题 光电材料与探测、成像、显示及光伏光学等器件技术
第6专题 智能结构与制造和测试
来稿要求： 1、 来稿请直接登录中国科学院光电技术研究所网
站
www.ioe.ac.cn，打开toAOMATT--在线投稿系统，按系统导航要求完成摘要投稿。摘要被录用后，完成论文投稿。正文稿件经评审或修改正式录用后，由作者自己最后将稿件链接投入美国mySPIE系统中本次会议文集相应卷号。其链接代码由美国mySPIE系统授权，由toAOMATT系统向作者转授。
2、 根据协议，未向toAOMATT系统投稿并通过评审
的论文，美国mySPIE系统将不予受理；反之，虽经toAOMATT系统录用，但作者最终未完成向mySPIE系统投稿者，被认为作者自动放弃。
3、按toAOMATT系统要求，准确填写两类信息：作者信息和稿件信息，详见toAOMATT系统要求。此处从简，不做详叙。凡作者不能提供有效通信地址者,稿件不予录用,以后收不到文集责任自负.
摘要是稿件录用的重要评审依据之一，作者的英文摘要会前将被收入《会议摘要集》中，要求认真编写，不少于300字、不大于500字；国内作者摘要要求英、中文各壹份，不含插图。附100字个人简历一份。
论文稿件信息包括：拟投会议专题序号与名称；选择发表方式；稿件所属支持基金或项目编号或代码,统一在摘要末尾单独给出。在正式论文稿件的Conclusion 的末尾，统一以“感谢”形式表达。
3、来稿文责自负，请勿涉密，不一稿两投（含中文期刊已发表过的论文经翻译再投）。来稿时如能同时提供作者所在单位同意发表本论文的证明材料的扫描文件，包括同意引用所属支持基金代码，将被受到欢迎。但在本次会议上，不作为投稿统一要求，也不作为稿件录用评审依据。
4、为使发表文章机会均等，本次会议同一位第一作者论文原则上只限录用一篇，第二、三作者不限。