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仪器需跟着时代一同进化

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:1604 发布时间:2016-3-31 QC检测仪器网

  为了提升仪器介面的易用性与效能,并提供工程师更好的使用经验,是德科技()推出了新款的 X系列信号分析仪,可显着增强开发工程师设计新一代装置的能力。新机型最令人瞩目的是多点触控操作介面(UI),让量测设定变得更顺畅,并且为新解决方案奠定更扎实的基础。此外,新的分析仪在效能与功能方面都有大幅的提升,可满足航太、国防和无线通讯领域的新兴需求。

  全新设计的UI在两次触控操作内便可将量测参数最佳化,而捏缩(pinching)、拖曳及滑动等手势操作,可实现更直接且直觉的分析。X系列旗下的、PXA、MXA、EXA及CXA全都支援一致的操作,只要学会使用一种机型,就会使用所有其他机型。

  为协助开发工程师研发新一代装置,旗舰型现在提供44 GHz或50 GHz的频率范围,并整合了业界首见的1GHz分析频宽;而PXA现可提供指标性相位杂讯效能,在1GHz频宽、10kHz偏移下可达-136 dBc/Hz,其他特色包括510MHz即时频宽、整个频率范围内大于75 dBc的无杂波动态范围。

  台湾是德科技总经理张志铭表示,新款X系列信号分析仪进一步提升了易用性及效能,再次证明是德科技在信号分析领域的领导地位。在 X系列的辅助下,工程师可更快获得所需的答案,以便在射频、微波及毫米波频率获致重大突破。

  为了在密集的雷达环境中分析信号交互作用,Keysight 及PXA提供高达255 MHz的频宽、16位元解析度和300 MSa/s取样率,以支援即时资料串流。如果结合使用是德科技解决方案合作夥伴X-COM Systems提供的资料记录器,新型分析仪便可利用高达15 TB(长达3个多小时)的撷取记忆体,支援即时资料撷取。

  Keysight X系列应用软体的多点触控功能简化复杂的操作程序,让工程师能够透过经验证、立即可用的功能,执行脉冲分析、类比解调变、杂讯指数、LTE/LTE-Advanced及W-CDMA量测。新的脉冲应用软体可协助工程师加速开发并验证线性调频宽频信号,例如先进雷达使用的信号。LTE/LTE-A应用软体的更新可支援256 QAM并为所有子载波提供可检视的配置,以便轻易地对使用载波聚合技术之系统进行特性分析。

  新款N897xB NFA X系列杂讯指数分析仪具备X系列的功能,与上一代机型相较,具有更大的显示幕、多点触控UI、及增强的效能。这些功能让使用者能利用频宽高达40GHz的专属解决方案,进行快速、准确且可重复的杂讯指数量测。

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