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2012年JadeShine嘉盛科技 世界先进无损检测技术及应用国际研讨会

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:3256 发布时间:2012-5-15 QC检测仪器网

2012年JadeShine嘉盛科技

世界先进无损检测技术及应用国际研讨会

 

邀请函

 

尊敬的客户:

    随着中国经济的快速发展,中国制造的质量和安全问题不断成为国内外关注的焦点,负责任地生产、负责任地运营,成为国内外市场对中国企业最朴素的愿望,品质和安全也是国内社会对任何产品的必然诉求,无损检测做为品质控制和安全诊断的关键手段,如何寻求和识别真正先进且行之有效的探伤技术和解决方案已日益成为企事业单位的根本出发点。

秉承“以信为本、全心服务”的核心理念,嘉盛科技一直致力于无损检测先进技术的持续推动和推广。为进一步促进国内用户无损检测技术水平的提高,推广国际真正领先的无损检测先进技术和应用经验,在各行业协会和广大用户的支持下,嘉盛科技公司联合国际顶尖的无损检测厂家,定于2012年6月28-29日在北京举办2012年世界先进无损检测技术及应用国际研讨会,诚挚邀请航空、航天、民航、汽车、铁路、兵器、船舶、冶金、重工、电力、石油、化工、食品、制药、锅炉、压力容器和风电等行业派代表参加,了解和对比先进无损检测设备的性能和技术水平,交流无损检测国际先进技术和经验,共同促进企业和社会的质量安全效益。

本届研讨会将由国内外专家专题报告最新激光错位散斑、激光全息、红外热成像、第五代涡流、视频超声、相控阵/TOFD/PE超声、高频水浸超声、大型超声C扫描、DR/CR数字X射线和工业CT、激光内窥镜、显微内窥镜、全自动磁粉探伤等先进检测技术和设备状态,应用涵盖各个工业领域产品或设备的制造、维护、维修、大修,视野广阔、精彩纷呈。嘉盛科技真诚邀请您莅临本次盛会,拓展产品质量控制检验和设备健康安全诊断的新视野,对接本单位的质控需求和检测难题,共同探讨真正有效的解决方案。(《研讨会专题报告内容摘要》附后)

会议地址:北京(具体地址另行通知);会议食宿由嘉盛科技承担

报到时间:2012年6月27日下午13:00 – 21:00,会期:28-29日。

由于会议名额有限,敬请贵方将与会代表回执于6月15日以前电邮至MA@jadeshine.com或传真至010-84417646-800,或通过电话010 -84417645和84417646与会务组联系。

谢谢合作!                                

2012年5月15日

Jadeshine·嘉盛科技

  

 


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