剪切干涉术是一种光学干涉技术,可广泛应用于工 业无损检测(NDT)领域。通过在被测物体表面施加动态或热负载,可探测材料内部结构的缺陷。
该测量技术用激光照射材料表面,将反射回的波面横向平移一定位移后同未平移的波面进行自我干涉,形成干涉条纹。当被测材料由于开裂,剥离,内部包含异物,凹陷,受挤压,或是多层材料出现脱层等现象,则材料表面的干涉模式会出现局部不连续。
与采用电机驱动反射镜的其他常规剪切干涉系统不同,黄金眼系统首次使用了电控的空间光调制器(SLM)来实现剪切和相移。
该技术的优点在于完全避免了由于使用微型机械元件所带来的麻烦,大大 提高了系统的实用性。全电子控制的SLM实现了极快速的剪切量调整和相 移控制,同时也使对光波场的任意调整成为可能。
测量场可以进行动态或温度加 载动态加载通过压电传感器(Piezo)来实现。压电传感器经真空紧密贴合在材料表面,由软件控制产生高能量的振动。其振动频率可变,从而可与材料的机械性能相匹配。温度加载则可通过热光源的照射来实现。
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