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超声精确测厚仪

产品型号:[ Panametrics® 35系列 ]   产品产地:[ 北京 ] 
产品简介 浏览次数:0 [打印本文] [加入收藏] [返回][顶部]
在 待测材料的另一侧难于或无法触到的情况下,Panametrics® 35系列超声精确测厚仪提供了简便易行、经济划算的解决方案。这些坚固小巧的测厚仪可对许多不同形状和尺寸的材料进行稳定性强、可重复性的厚度测量。精确 的厚度测量值以大号数字显示在背光LCD显示屏上;如选择A扫描模式,则厚度测量值与实时波形一同显示。

Panametrics 35系列的特性

• 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
• 可测厚度范围宽:0.08 mm~635.0 mm(0.0030 in.~25.0 in.),取决于仪器和材料。
• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
• 手持式,仅重0.24公斤(8.5盎司)。
• 最小/最大模式
• 高-低报警
• 英制和公制显示(英寸或毫米)
• 多种语言用户界面
• 长效电池

Panametrics 35型和35DL型

在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25~30 MHz的探头,因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说,探头频率越高而直径越小,对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

应用
• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35HP型和35DL-HP型

HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下,使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。

应用
• 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料
• 厚金属铸件
• 厚橡胶轮胎、履带
• 玻璃纤维船体、储罐
• 复合材料板
• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸

35HP型测厚仪是测量玻璃纤维和复合材料部件的理想工具,其测量的对象包括对厚度控制有严格要求的航空航天器部件、船体及储罐。

为什么使用HP测厚仪?
三十多年来,我们开发了专用于测量高声速衰减材料及厚材料的HP(高穿透)系 列超声测厚仪。该系列测厚仪不仅可使用频率低到0.5 MHz的探头,而且与其配套使用的电子设备(脉冲发生器-接收器)还可被极大程度地优化设置,以在如此低的频率下处理信号。Panametrics测厚仪 因在测量厚橡胶、玻璃纤维、复合材料及其它坚韧材料时所表现的卓越性能,而赢得了良好的口碑。

 

Panametrics 35系列的其它特性

利用减缩率,可测量金属材料因弯曲而变薄的临界厚度值。

减缩率测量
所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。

可直接显示声速数值的声速测量模式

材料声速测量
所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中,这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度,以及监测复 合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺,用于自动传输测量厚度值。

自动调用功能可简化测量操作
自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时,35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。
存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。
存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时,这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置(35型和35HP型可调用10个自定义设置)。
在这种基本应用中不可使用测微计。然而,可以使用配有M208探头的35型仪器,在不损坏玻璃的情况下,进行校准精度达0.001毫米(0.0001英寸)的厚度测量

超薄钢板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波

 

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