超声波C扫描检测系统-W30用于对材料科学，半导体行业等相应产品的内部缺 陷检测，利用超高速线性马达运动系统，带动高频超声换能器，对产品进行水浸C扫 描检测，全波列采集超声波信号，利用成像算法和数据图像处理功能，对产品内部的 缺陷进行有效识别，得到内部清晰图像，并统计分析缺陷位置、形状和尺寸，生成自 定义报告。
省空间:一体式设计可以减少设备占用的空间;
便携性:设备更轻便，便于移动;
简化操作:可以减少用户操作的复杂性，提供更简单、更 直观的操作界面和操 作方式;
故障率低:一体式设备集成度高，内部连接和接又较少，相对分体式设备，故 障率较低，维修和维护相对简单。
已通过Nadcap认证。