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探测器光谱响应测试系统

产品型号:[ SSC-DSR ]   产品产地:[ 山东 ] 
产品简介 浏览次数:0 [打印本文] [加入收藏] [返回][顶部]
产品简介:
探测器是采用具有光电效应的材料制作的光电转换器件。由于不同类型的材料具有不同的光谱选择特性,因此探测器光谱响应测试对探测器的生产、检测、应用和研究等都有重要的意义。

SSC-DSR探测器光谱响应测试系统可以方便、简捷地对探测器的光谱性能进行检测。系统符合国家计量技术规范 JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应度校准规范》规定的测试方法和测试要求,是探测器光谱响应测试的首选设备。

测试项目:
绝对光谱响应曲线(A/W或V/W);相对光谱响应曲线;内/外量子效率曲线(%);等效噪声功率(NEP);比探测率(D*);响应时间(s);线性度,以及暗电流(A)。偏置电压下的光谱响应度及外量子效率,指定波长下的I-V特性测试。

主要特点:
1. 光谱范围宽,适用面广

宽光谱范围可适用于各种不同样品,如响应在日盲区的深紫外探测器;响应在可见光的太阳能电池;响应在近红外的光纤传感器;响应在中远红外的光电传感器,都可以在本系统上测量光谱响应度。

2. 监视光路,方便样品定位

采用监视光路,使用高精度显微镜配合CCD 相机实现对微小器件的可视化控制,可清楚观察暗室内测试光斑与样品有效区域的位置关系,配合精密位移台实现样品精确定位。

3. “TurnKey”理念,“OneKey”应用,系统集成度高。

秉承“交付即使用”的“TurnKey”理念,我们将系统设计为高度集成结构。在保留模块化系统兼容性高和升级空间大的前提下,将众多调整环节整合,达到无需多加调整即可使用。为免除定标的繁琐操作,本系统采用替代法进行测试。替代法作为现行的国家级计量部门通用的测试方法,与传统方法相比避免了对系统中各相关部件分别定标的繁琐以及多项误差的引入,具有更准确,更方便的特点。

4. 针对不同器件的结构特点,配置不同的测试模式,配合两种不同的光路形式。

4.1.有效面积小的样品,需要通过照度法进行响应度的测试。采用积分球匀质光路设计,光均匀度高。

在宽光谱范围的光学设计中,采用积分球实现光的匀质输出是一种常用的手段。积分球内设置合理的挡板可有效防止入射光的直接出射,保证输出光的匀质要求。

4.2.有效面积大的样品,可采用通量法进行响应度的测试。采用全反射式成像光路,可提高光利用率,增大测试信噪比。

在宽光谱范围的光学设计中,反射式光路要比透射式光路具有更高的成像质量。透射式光学系统中影响成像的重要因素是色差,其来源是不同波长的辐射在光学材料中的折射率不同,波长范围越宽,色差越明显。在反射式的光学系统中,由于不涉及折射,所以不存在色差。因此采用反射式光路,成像质量会优于透射式光路。
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