DEMT-8数字电磁层析成像仪是目前全球唯一一款商业化的电磁层析成像系统。其独特的系统架构使得它可以在两种工作模式下进行测量，即层析成像模式和金属探伤模式，可以用于科学研究和工业检测。其基于FPGA的数字核心平台能带给您最优的测量性能和最灵活的测量方式。
产品特点
√ 基于FPGA的数字化核心测量平台
√ 系统信噪比(SNR)：60-90dB
√ 测量通道：8通道任意组合搭配测量
√ 多种额外配置可选
√ 测量频率:1kHz-200kHz(标准版本) 0.1Hz-500kHz(宽频版本)
√ 前端信号处理模块：可编程3阶放大，放大倍数1-8倍
√ 双模式可选：层析成像模式/金属探伤模式
层析成像模式 — 实时高速成像，成像速率最高达到400幅每秒
金属探伤模式 — 数据采集速率最高达到10万数据点每秒
层析成像模式
• 成像速率最高达到400幅每秒
• 多种反演算法可选
• 最大测量直径300毫米
• 非接触非侵入式测量，最高介质温度可达300℃
• 用于导电/导磁固体或液体在圆形截面上的分布成像与分析
• 最大成像分辨率为圆形截面面积的1% （32×32像素分布）
金属探伤模式
• 信噪比大于60dB
• 单通道最大测量速率10万次每秒
• 最小可测裂缝宽度0.1mm
• 8通道任意组合测量，包含实部，虚部，幅值，复平面信息
• 最大频域0.1Hz-500kHz