产品概述：

    CORE-DS光学高速多轴测量系统是专为叶片测量量身定制的最佳解决方案。CORE-DS使用新一代白光测头取代了传统接触式测头，克服了接触式测头在测量叶片时的固有弱点，为叶片测量技术开拓出一片全新领域。

    接触式测头速度慢、测量微小物体时容易产生测头中德几大方向错误、测量结果评价过程复杂一直是目前叶片测量中的几大难题，因此叶片检测的效率一直受到较大限制。而光学测头的应用从根本上解决了这些问题。MAXOS/CORE使用的光学测头应用了创新的白光点光源进行数据采集，直径小至9um的光点可以检测到零件表面最细小的几何特征。光学测头的应用也完全避免了接触式测头容易产生的半径补偿错误。每分钟高达4200点的采点速度和高动态多轴联动测量最大限度地提高了叶片测量的速度。一键式测量结果评价功能进一步缩短了整个叶片检测过程所需时间。应用CORE-DS对中等大小叶片进行测量评价，三个截面型线检测只需2分钟。