＊β射线反向散射测量技术

＊依照标准ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的准则

＊应用在测量许多经典结构的镀层厚度，包括镍上镀金（Au/Ni）,环氧树脂镀铜（Cu/epoxy），光致抗蚀剂photoresist，铜上镀银（Ag/Cu），科瓦铁钴镍合金上镀锡Sn/kovar，铁上镀氮化钛Ti-N/Fe，锡铅合金Sn-Pb。

＊ Micro-Derm MP-900可以利用霍尔效应技术测量铜上镀镍（Ni/Cu）的厚度。

＊探头系统可以用于精确测量各种样品表面，从小零件（连接器和端子）到大零件（印制线路板）。

l Micro-Derm BBS厚度标准片（4点设定）包括：纯材料的底材，表面镀层的纯材料无限厚片和两块经过NIST（美国联邦标准技术委员会）认证的标准厚度的薄片。

l 高质量的制造技术确保尽可能精确的镀层厚度测量。

l 设计体现了无与伦比的易操作性和高效率。


       融合了β射线反向散射和霍尔效应测量技术。避免了因为存在两种需要而购买了两种仪器的麻烦。

＊紧凑的设计

＊全面的测量能力

＊经济的X射线荧光分析仪器的替代品

＊提高生产量

＊45种标准档案记忆允许用户快速的进行应用转换。

＊独特的NOVRAM 设计使得即使在备用电源断电时仍可以保留有价值的校准档案。

＊标准校准模式：4点，3点，2点，线性，多点和Sn-Pb.

＊特殊的多点Sn-Pb校准模式可以对不同的Sn-Pb组分进行自动补偿和修正。

＊新的3点BBS模式并不需要纯材料镀膜标准片。

＊多点校正模式应用于霍尔效应测量（测量镍厚）。