人类一直好奇于如何窥探物体内部的奥秘，自1895年德国物理学家伦琴发现X射线以来 ，这种神奇的射线技术使得对于物体内部的研究有着更深层次的发展。
现如今，X射线成像逐渐由二维发展拓展至三维工业CT技术（计算机断层扫描），其原理是在X射线成像基础上，结合转台采集多个角度的投影图像，并通过复杂算法计算重建从而获取物体内外部三维空间信息。
工业CT出色的三维内部结构成像能力，使得它于传统的无损检测领域得到迅速发展，成为最佳的无损检测手段之一，但不仅如此。
传统上对于部分工业产品往往必须采用切剖与打磨等方法进行有损尺寸测量,不仅耗费大量时间,破坏了工件,导致该制品不可再用。同时极易导致工件由于破坏性检测发生形变从而影响最终测量结果，我们不禁要问：是否有更佳的尺寸测量方案？
带着这个疑问，让我们一同走进中国计量科学研究院纳米计量实验室去寻找答案吧。
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