光切法显微镜 9J(上海光学仪器厂 上光新光学)
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又称双管显微镜，在不破坏表面的状况下，以光切法测量零件表面的微观不平度、划痕、刻线或缺陷的深度，适用于计量检测机构、精密零件制造和科研等单位，也是经典教学仪器之一。
●表面粗糙度测量范围：12.5～0.2(光洁度▽3～▽9)
●不平宽度测量范围：0.7μm～2.5mm/或0.01μm～13mm.
●不平度测量范围：0.8μm～80μm
●物镜：7×,14×,30×,60×,测微目镜分划0.1mm.
选配：摄影摄像与图像处理与分析软件.