XRD及其它技术的解决方案
X 射线衍射（XRD）、X射线散射技术和计算机X射线断层扫描技术（CT）是多功能的、非破坏性的测试方法，能够揭示各种类型的天然和人造材料的有关化学组 成、结晶学和微结构的详细信息。帕纳科公司为范围很广的XRD和X射线散射应用提供了技术全面的解决方案。我们的产品为包括材料研究、大学及研究院所、建 筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体的众多领域提供了高精度的分析。帕纳科的设备系统有无可匹敌的应用专业技术和技术全面的先进软件工具的强力 支持。用户们关于帕纳科的系统是可想象的技术最先进、最物超所值的衍射解决方案的报道使我们感到十分自豪。
产品列表
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系统
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描述
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典型的功能/应用
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Empyrean
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唯一的功能齐全的XRD平台
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尖端材料研究的终极系统——测量各种样品，且不降低数据质量
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X'Pert PRO MRD and MRD XL
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成功的薄膜分析标准
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针对薄膜的研究和生产控制——大到4英寸（MRD）或200mm(MRDXL)的全晶片测试 ， 可用C-to-C晶片样品架自动完成
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CubiX3
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第一台工业粉末衍射仪
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世界上最快速的、全自动黑匣子式粉末衍射仪，应用于工艺监控，受帕纳科无可匹敌的全球支持网络的支持
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X'Pert Powder
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适合所有用户的粉末衍射
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能够提供的最大功率的粉末衍射，可以进行将来的功能升级，是教育单位的理想选择
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帕纳科的领先技术
把X射线衍射和散射技术从研究实验室扩展到日常使用及生产控制可以通过一系列的技术和软件开发来实现，比如帕纳科首创的超快探测器。
• 带有直接光学位置灵敏（Direct Optical Position Sensing）的独特测角仪，是为连续多年的顶尖性能而设计的。
• 与CERN和其它技术领先的探测器物理研究单位共同开发的全固态X射线探测技术。
• PIXcel3D： 世界上唯一的可以进行0维、1维和3维测量的面探测器。
• 一套完整的艺术级的分析软件包，为了使用简便而设计，有详尽的文本和指南的支持。
• 遍布世界的XRD专家网络，能够回答您的任何应用问题。