QC检测仪器网! 网站首页产品中心 | 资讯频道 | 展会频道 | QC 访谈 客户热线:010-64385345 / 85411214  设为首页  加入收藏  网站导航  帮助

深圳市纳科电子有限公司

首页 /  关于我们  /  产品展示  /  企业动态  /  联系我们
 暂无企业新闻
新品 | 日立推出新款直读光谱仪OE720 新品 | 日立推出新款直读光谱仪OE720
..[详细]
·奥林巴斯新款Vanta Elemen
·矿业分析不可缺少的“神器”
·560RSSZ/V3.0全自动洛氏硬
·专业铸就品质——深度探索奥林巴斯光谱
·TOFD双屏模块
    深圳市纳科电子有限公司专业提供电子产品失效分析和可靠性解决方案,产品涵盖全球一流的非破坏性和破坏性失效分析和可靠性的设备以及相关流程方案。   深圳市纳科电子有限公司拥有一批有着多年丰富经验的半导体封装行业和失效分析领域经验的销售人员、应用技术支持及服务人员;不仅为您的电子产品提供品质保证和控制、失效分析,更能为您的相关检测和分析流程提供应用技术支持和行之有效的咨询顾问服务等附加值。  优良的产品品质和优质的技术支持和服务,我们与客户建立了良好的关系和声誉;我们的关系客户有:ASAT、STS、粤晶高科、中芯国际、诺基亚、伟创力、华南理工大学、富士康、电子五所、SGS通标标准分析中心、CTI华测检测、比亚迪、华为技术、中兴通讯、深南电路、艾默生集团、美的集团、香港科技大学、香港科技园分析中心。 [详情]
更多 
暂无产品
联系人:陈伟 先生
电话:-
传真:-
邮箱:in201111@163.com
地址:
QC检测仪器网
检测仪器展会频道
检测在线解答
仪器供求信息
仪器产品综合频道
仪器人物访谈
邮箱:(E-mail)QCtester#126.com(发邮件时请将#换为@) 地址:(Add)北京市朝阳区酒仙桥路2号01商务楼北楼329室 备案号:京ICP备05027030号
客户热线:(Tel)010-85411214 / 64385345  传真:(Fax)010-64374736
Copyright © 2009 QCtester.com Inc. All Rights Reserved. QC检测仪器网 版权所有