基于线阵探测器的二维工业 CT 扫描成像检测系统

二维工业计算机层析成像（ 2D-ICT ）技术是以扇束 X 射线从不同角度穿过被检试件的某一截面，探测器在不同的角度接收不同程度衰减的射线，利用一定的算法重建被检物体在横截面内的物理、几何性质。

本系统可根据被检试件的大小，提供标准扫描和大视场扫描两种方式，也可按照用户的要求定制开发技术，提供 一种快速断层扫描、高对比度分辨率的二维层析检测技术。

系统特性

· 射线能量： 0.02-9MeV

·对比度分辨率： 0.3 ～ 0.5% ；

·空间分辨率： 5LP/mm ；

· 投影扫描时间： 1 ～ 6min ；

·一次扫描重建断层数： 1 ～ 800 ；

·灰度等级： 12Bit 、 14bit ；

· 重建速度（ PC 机）： 60s/(1024 × 1024 断层 ) ；

·图像存储：实时自动存储于硬盘，刻录光盘保存；

·成像处理软件：基于 Window 2000/XP 的专业数字操作及处理软件；