CVM-250坐标测量仪
产品图片:
技术参数:
技术参数 |
CVM250M |
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X 测量范围 Y Z |
250 125 200 |
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物镜 放大倍数 |
不同选配镜头,倍率有所不同 |
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数额分辨率(mm) |
0.001(mm) U1=3.0um+L/75 U2=4.0um+L/50 |
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长度测量不确定度 |
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重量(kg) |
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302 |
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电源 |
220v,60Hz,1kw |
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CVM250M坐标测量仪精度高,操作容易,应用灵活。但所有一切的前提条件是坚固的底座,优质的光学镜头及多种感应系统,灵活应用的感应器和快速控制系统的完美组合。为了保证外形稳定,不受外界机械力量和热量等因素的影像,CVM25OM选择了花岗石作为底座原材料。在此底座装有滚针轴承导向的精密测台,测量范围为250×125mm。
精密光栅尺,分辨率为0.0001mm 无接触测量读数,可进行自由测量,精度高。测台各轴装有电子校正,可以根据要求进行检测,更新。这保证了机械部分使用寿命长,且能永久保持一种不变的高测量精度。Z轴的测量行程为200mm。测台为电机驱动且配有3向无级变速操纵杆。CNC控制操作可以进行快速,灵活的编程,并可扩充到5轴CNC控制,运行速度可以适应不同的功能。
我们可以提供不同放大倍率的大工作距离的光学镜头,以便在测量时可以根据需要选择相应的镜头。专业的校准及数值计算方法保证了光学测量的精度。此仪器还可以进行Z轴自动调焦测量。如果测件超出了光学测量的范围,还有其它触头测量系统可以进行超出部分的测量,如Renishaw接触触头,激光触头等。所有触头系统可以同时配置在仪器上并使用同一个零点。
Windows NT界面下的Saphir软件操作迅速,简单﹑可以进行精确的测量。特别是编程简单,而且可以脱机进行。CAD通过DXF和IGES接口连接,数据输出格式ASCII , EXCEL或QS等,BESTFIT功能和数值化功能只是我们软件中的几个模式。软件的所有功能都有图形支持。数据统计是标准模式,可以将数据传输到SCP机上,并可以选择不同的Qs-Stat统计程序。