SENDURO型椭偏仪 简介 SENDURO 是 UV-VIS 分光椭偏仪，基于高速精确发光二极管阵列探测器，具有高光谱分辨率、高信噪比和测量速度快等特点。自动样品台可以实现高度与倾斜的校准。消除了人为的不确定性，提高了测量精度。 SENDURO 基于步进扫描检偏器原理。消色差补偿器，使得测量角度从 0° 达到 360° 非常精确。高速测量使得 SENDURO 成为成批材料，单膜，层堆等光学参数的理想测量工具，同时可以分析表面粗糙度，界面层和材料成分 。SENTECH 公司的 SENDURO 软件有着完美的操作向导，最少的用户界面设计。其强大的功能还体现在自动建模，模式创建上。 SENDURO 软件包括大型材料和膜层数据库，密码控制用户登陆，多用户和远程故障诊断。并具备多数据多样品分析以及光学数据性能仿真。