X 射线荧光分析仪 XGT-5000

在保留 XGT-1000WR 优点的基础上， Horiba 又推出专用于微区分析的 X 荧光分析仪。 XGT-5000 采用 Horiba 专利技术，将 X 射线聚集成全世界最小的 10 μm 射线束，点分析的强度相当于 SEM-EDX ，是同类产品的 20 倍。最小分析区域为 10 μm ，最大分析区域为 10 cm x 10 cm ，不但可以对样品的表面进行常规分析，也可以对样品的内部结构进行分析，这是同类产品无法比拟的优势。

l 10 μm 的 X 射线高强度、高速度的扫描分析。

l 样品可以置于大气中分析，专利的真空探针方式。

l 同轴观察，可以从摄像系统中选取所需的测量点，单键控制，放大倍数最大可至 100 倍。

l 可以对物质表面和内部构造同时进行分析。

l 主要应用： WEEE/RoHS 法令中涉及的产品有害元素的测定、珠宝首饰的成份检测、电子电路板的微区分析、考古或博物馆中对古物的分析

l 同时也满足科研院校在常规元素检测方面的要求。