XGT-1000WR 根据 WEEE/RoHS 法令，对电子电器产品中所含有的有害元素，进行快速而准确的分析。采用 Horiba 独有的 X 射线分析技术，将X射线聚集成最小 1.2 mm 的射线束, 使得 X 射线的强度比同类产品提高了近 10 倍，可以对微小区域（1.2 mm）的有害元素实现高精度的检出（ Cd 的检出限可达 2 ppm、Pb 的检出限可达 5 ppm）。另外,通过 CCD 摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。

l 采用 Φ1 mm X 射线导管可对微小部分进行高精度分析。

l 样品室容量大（ 460 x 360 x 150 mm ）。

l 采用专利的真空探针方式，可在大气中进行分析。

l 装有 CCD 摄像头（放大倍数 50 倍），直接看到图像，并指定分析区域，无需光路补偿，同行业中首次采用 X 射线和光学同轴照射方式。

l 还可以选配 100 μm 的微区分析（选件）

l 主要应用： 大型家用电器、小型家用电器、信息及电信设备、照明设备、电子及电器工具、玩具。

l 同时也满足常规的元素检测需要。