X100/SRA150型激光粒度分析仪 | |
产品编号: C12470 | |
产品型号: X100/SRA150型 | |
原 产 地: 美国 | |
仪器介绍 | |
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪,原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论 处理,利用现代模块式设计理念,使用获得专利的三激光光源技术,配备超大角度双镜头检测系统, 以对数方式排列151个高灵敏度检测单元,无需扫描,平行通道实时接受散射光信息,提供准确可靠 的测量信息。多种分散方式可选,干法与湿法测量之间的转换,系统自动识别,方便快捷。 S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析-激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要 求,并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。 |
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主要特点 | |
﹡ 专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和 多次米氏理论(Mie Theory)数学处理的误差(米氏理论处理与波长有关)。 ﹡ 固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置,无需扫描,同步接受全量程散射光信号,保证分 析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。 ﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子,内置常用分析物质光学数据库, 提高颗粒粒度分布测试的准确性。 ﹡ 系统自动对光,内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。 ﹡ 多种样品分散系统可供选择,各种分散系统之间的转换简单方便,结果稳定一致。 ﹡ 现代模块式设计,可根据实际应用需要允许选择仪器的配置,以满足将来的任何需要。 ﹡ 数据处理灵活方便,体积分布,数量分布和强度分布,微分与累计百分比以及其他综合报告 形式任意组合,数据存储兼容性强。 ﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。 |
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技术参数 | |
﹡ 测量范围:0.04μm-700μm; 0.7μm-700μm ﹡ 测量原理:静态激光衍射/散射技术 |