X100/SRA150型激光粒度分析仪 点击放大
产品编号: C12470
产品型号: X100/SRA150型
原 产 地: 美国
 
仪器介绍
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪,原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论
处理,利用现代模块式设计理念,使用获得专利的三激光光源技术,配备超大角度双镜头检测系统,
以对数方式排列151个高灵敏度检测单元,无需扫描,平行通道实时接受散射光信息,提供准确可靠
的测量信息。多种分散方式可选,干法与湿法测量之间的转换,系统自动识别,方便快捷。
S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析-激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要
求,并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。
主要特点
专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
多次米氏理论(Mie Theory)数学处理的误差(米氏理论处理与波长有关)。
固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置,无需扫描,同步接受全量程散射光信号,保证分
析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。
首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子,内置常用分析物质光学数据库,
提高颗粒粒度分布测试的准确性。
系统自动对光,内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。
多种样品分散系统可供选择,各种分散系统之间的转换简单方便,结果稳定一致。
现代模块式设计,可根据实际应用需要允许选择仪器的配置,以满足将来的任何需要。
数据处理灵活方便,体积分布,数量分布和强度分布,微分与累计百分比以及其他综合报告
形式任意组合,数据存储兼容性强。
NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。
技术参数
测量范围:0.04μm-700μm; 0.7μm-700μm
测量原理:静态激光衍射/散射技术