表面粗糙度测量仪WRT-180?
通过计算机控制的表面粗糙度测量系统

可测量表面粗糙度,波纹度,直线度和形貌
各种带可换触针的测头, 可满足各种复杂的测量要求
可测量多种表面粗糙度参数rs
测量长度0.08毫米至100毫米
符合ISO, DIN, ASME, JIS等国际标准
可根据ISO标准测量波纹度

此系统可升级,用于测量轮廓和形貌


技术参数
测量原理 触针式LVDT测头
测量参数 Ra (Ra75),Rq,Ry,Rmax,Rt,Rz,Rz5, Rz3, R3z, R3zmax, RzmaxD,RzD, Sk, Ku, Pc, HSC, PPI, Rpm, Sl, Sm, S, Rp, Rv, θa,θq,△a, △q, K,tp, bC, ADC, FFT, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2,Wca, Wcm, Wea, Wem,直线度,缝隙,坐标等
测量长度 垂直 50, 100, 200, 500, 1000, 2000, 5000, 10000, 20000, 50000, 100000, 200000, 500000,
水平 1, 2, 5, 10, 100, 200, 500, 1000, 2000, 5000
测量范围 垂直: 600 um, 水平: 100 mm
评定长度 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm/λc x 1, 2, 3, 4, 5
移动速度 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1, 毫米/秒(测量时), 5, 10毫米/秒
取样长度 表面粗糙度 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm and un-filtered
波纹度 fl 0.8, 2.5, 8, 25mm fh 0.08, 0.25, 0.8, 2.5mm
滤波 Gaussian/2CR/特殊 Gaussian
采样点数/分辨率 最大32000点/16bit
自动消偏 最小二乘法,二点法,R曲线较正,二次方程曲线较正
功能 模版,平均处理,统计处理,不连续测量,重复计算,描述,灵敏度自动校正,单位转换(毫米/英寸), 自动测量,缺口处理,轮廓尺寸变化处理
底座和立柱 底座600*315毫米,重量70KG,自动截止精度±2.0微米(放大100000, 带导头时),测头上下移动范围250毫米
水平支撑台 160*50毫米,测量方向带V型槽,旋转±3度,斜度±3度, Y轴进给量±3毫米
测头 R2微米,0.7mN,钻石头
尺寸 主体:600*400*593毫米, 80公斤
计算机:900*600*520毫米,30公斤
电源 AC90-120伏, 50/60赫兹,800瓦

标准配置
测头
测量单元
底座和立柱
遥控装置
水平支撑台
控制单元
计算机
激光打印机
校正标准块Ra
操作说明书
WILSON-WOLPERT合格证

可选附件
带可换触针的测头
校正标准块(UKAS证书)