TGM使用的脉冲接收器的最高频率为400MHz，最低频率为50KHz，每通道有32个闸门，对超声类型无限制，因此可以解决广泛的极限范围超声应用。使用超声频率高于200MHz时，可以测量厚度低于0.012mm的聚合涂层或塑料隔栅层，校准精度为±0.0025mm或更高。该系统同时也可进行渡越时间为皮秒级的超稳定测量，适用于在材料分析时通过测量超声波速度的变化来确认由于密度或硬度变化而引起的细小质量变化。

ScanView Plus软件
TGM整套系统都是利用ScanView Plus软件的，这个软件整合了高级数据采集和设备控制以提供高精度厚度测量。创新的操作性能方便了用户有次序通过设置和提供可输出的厚度读数表。ScanView Plus软件也提供了很多高级的评估性能，例如，多点校准，图形矩阵，FFT光谱分析和实时统计优化。

基本系统
基本TGM系统包括计算机
数据采集卡
用户定义脉冲发生/接收器和ScanView Plus软件
TGM系统同时包括一个设备设置菜单，可以允许用户重新配置多通道的脉冲发生/接收器-。每个系统都可以根据用户需求量体定做。

TGM特点
·可以测量厚度低于0.012mm的聚合涂层或塑料隔栅层
·亚微级厚度测量精度
·皮秒级渡越时间测量精度
·检测频率为100KHz到400MHz
·多层测量时每通道可以显示32个测量读数
·可以方便地将测量数据输出到电子表格
·多点自动声速校准
·可以以图解矩阵方式或截面方式显示测量读数
·根据产品要求可以将TGM系统整合到自动系统内
·实时统计功能确定测量的稳定性和精确度
·包括点状测量模式在内的所有ScanView Plus软件功能

高精度TGM
规格 2GHz数据采集卡 500MHz数据采集卡
分辨率 < 100皮微秒 < 200皮微秒
高速数自化时的TOF范围 0.0005 - 131 0.005 - 131.0
低速数字化时的TOF范围 50 - 524,244 70 - 131,008

TGM应用范围
·玻璃
·铝氧化物
·陶瓷制品
·半导体晶片
·硅树脂晶片
·塑料制品隔栅层厚度测量
·薄型多层制品
·薄塑料
·轻工制品
·特殊高分辨率检测

测量类型
·厚度
·声速
·渡越时间

脉冲发生器结构
·脉冲回波方式

测量模式
模式1: 使用接触式探头测量激发始波到第一个底面回波之间的厚度。
模式2: 使用延迟式或水浸式探头测量紧接激发始波的第一个界面回波到第一个底面回波之间的厚度。
模式3: 使用延迟式或水浸式探头测量紧接第一个界面回波后的有效底面回波之间的厚度。
隔栅层测量模式: 可以测量分辨率为0.012mm的隔栅层厚度。
多层测量模式: 可以同时测量多达32层厚度读数。

频率范围
50KHz - 400MHz（ -3dB）

操作温度
-10℃ -- 50℃

报警模式
可编程高-低值报警和读数报警，报警方式为笛音和屏显

实时统计功能
·TOF
·最小值
·最大值
·标准偏离值（SD）
·总计时间变化（TTV）
·平均值
·读数数量

单位转换
英制/公制单位转换

设备选项
·计算机控制的脉冲发生/接收器：5800PR和5900PR
·手动控制的脉冲发生/接收器：5077PR，5058PR，5072PR和5073PR
·500MS/s或2GS/s的数字化采集率

包括：
·内部连线和线路图
·系统集成
·所有的系统文件

选件：
·机械槽平台
·超声水导流管
·安装和培训
·激光或喷墨式打印机
·探头

探 头
GE泛美公司提供了整套应用于TGM系统的接触式、延时和水浸探头。对于高频测试和测量应用，可使用的宽带探头的频率可高达250MHz。

精度/测量范围

	500MS/s－A	2GS/s－B
时间精度	＜200皮秒	＜100皮秒
厚度精度	0.00004″（0.001mm，1μm）	0.00001″（0.00025mm，0.25μm）
渡跃时间范围	0.002－250，000μs	0.0005－500，000μs
最小厚度测量：
塑料/聚合体	0.001″（0.025mm,25μm）	0.0004″（0.01mm,10μm）
钢	0.002″（0.050mm,50μm）	0.0008″（0.02mm,20μm）
陶瓷/玻璃	0.004″（0.1mm,100μm）	0.0018″（0.045mm,45μm）
最大厚度测量：
钢	＞100ft（30米）	＞500ft（150米）
*厚度范围主要取决于材料、探头、表面情况、温度以及设置的选择