| 日本精工电子有限公司SII (Seiko Instruments Inc.)成立于1937年,是研制、开发和生产分析测试仪器的著名专业厂家。 SII自1985年起就开始致力于扫描探针显微镜的研究和发展，并随着相应技术的发展和更新换代相继推出不同系列高品质商品化的SPM产品。使SPM这一仪器家族愈臻完善，以满足科学研究和工业等不同领域的需要。自2000年进入中国市场以来，SII的扫描探针显微镜产品已被国内诸多重点大学和科研院所广泛地使用，用户已近四十家。 仕嘉科技发展有限公司是日本精工电子有限公司SPM产品在中国的独家代理商。公司拥有完备的技术咨询、技术支持和售后服务体系。国内的专业工程师可在产品演示基地现场演示仪器的操作使用，提供仪器的安装、调试、详尽的技术培训和完善的售后服务，免除客户一切后顾之忧。所有仪器均配备了中、英文两种版本的操作说明书，以方便使用。 ● Active Q Q值是指动态模式DFM中探针共振频率和其共振峰值半高宽的比，表示共振现象的灵敏度。高Q值可以使形貌、相位、磁力及液体中的测量更灵敏、分辨率更高。精工SPI4000系列SPM可以实现Q值的控制。 ● 独特MFM（磁力显微镜） - 有振幅控制和相位控制两种工作模式; - 具有可对硬磁和软磁多种磁性材料进行 ● 测量的功能; - 多种自制的磁性探针适合于不同应用的选择; - 配合SPI4000型控制系统的Active Q技术，通过增大探针振动的Q值，更可极大地加强磁力检测的灵敏度。可检测小于20nm的磁畴。 ● 真空、高温、低温、气氛等的控制 SPA-300HV系统可实现测量环境的控制。扫描在封闭的Chamber中进行，可对测量的环境进行控制。震动极小的磁悬浮分子泵和机械泵联用，实现10-7 Torr高真空，高真空环境不仅可以保护高低温测量，而且可以测量物质在高真空环境的特殊性能，极大地扩展了扫描探针显微镜的应用领域，为更全面地研究提供了手段；高温控制可实现800℃加热并可在低于300℃温度下进行高分辨的测量；低温控制可实现零下120℃制冷，气氛控制可快速实现各种气体的置换。 ● 微区电特性测量 - AFM/Current同时测量 - AFM-CITS电流隧道谱 - KFM开尔文力检测表面电位势 - Piezo-Response Force Microscopy压电响应 - SNDM扫描非线性介电显微镜 |