精密零件测量系统

SK2010

精密零件显微测量系统SK2010是一套集合了数位科技成果与计算机屏幕测量技术的 数码投影测量系统， 它应用了独有的双向同步倍率校正技术（专利） , 采用 独特同轴光、底光、侧光设计和具有投影与正像两种成像方式 , 可以测量在 75*75mm 范围内的零件局部 . 测量精度为 ± 2um, 调节倍率在3 0x －9 0x 之间 , 解析度 0.001mm. 能够有效的解决了器件的误差和屏幕的局限和满足各种测量倍率的要求 . 产品已经达到业内领先科技的水平 ; 是针对精密零件制造业日益精湛的加工工艺所带来的精确计量需求开发而成 .

◆ 独有的双向倍率同步专利技术

◆ 自动扫描收集数据

◆ 30 x －9 0x 调节倍率可 满足各种测量对倍率要求

◆ 具有投影和正像两种成像方式

◆ 具有消场曲和消畸变的成像特质

◆ 独特同轴光、底光、侧光设计

◆ 采用 sony 原厂 CCD 摄像头

◆ ＳＫＤ－ＣＬ２软件系统可进行各种图像测量和处理

◆ 支持多种格式 , 可进行图像存储、打印、编辑、发送、格式化等 .