SFT9455 萤光X射线镀层厚度测量仪

安装有正比例计数管检测器和半导体检测器,根据不同的测量条件自动进行最佳的选择。
采用75W大功率的X射线管,大大缩短了测量的时间,降低了测量的偏差。
应用范围:
Thick Au / thin Ni / Cu
Ti/Ni / Cu / BaTi
Cr / Al,Si
Au / Cu / Cr / Si
Au / Ni / Ti / Si
Ni-Fe thickness&composition
Au / Ni / Cu / PCB-Br
SnPb(In)Cu / Ti / Si
SnPb / Ni / Ag
Ag / Ni / Ti / Si
Au / Pb / Ni /Cu
Sn-Bi / Cu, Sn-Ag / Cu
Au / Si
Ultra thin∶Cr, Ag, Au, Ni, PbNi

标准配置:
激光自动聚焦
Point&Shoot XYZ stage
FP校准模式
样品识别软件
1.2mil(0.04mm)的X线束径
沟槽式Chamber
X线束自动排列
精确的模拟能力
检测器自动保护功能