| Information 该仪器为微小面积荧光X射线分析仪。本仪器可对数十微米级的微小物体进行定量分析或对多个元素同时进行定量分析。配备观察用CCD观测头和X、Y、Z三坐标系自动样品台，可任意指定分析部位或选配定量值。微小部分析仪除可进行异物检查外还可作为微小物体的高性能镀层厚度测量仪使用（需软件支持）。 Topics ● 采用微聚焦型X射线管球。可对50微米级的微小物体进行测定分析。 ● 采用X射线激活方式，对陶瓷、塑料、矿物、玻璃等绝缘物质可直接进行测定分析，无需对样品进行事先处理。 ● 配备了75mm×75mm自动样品台。只需简单操作即可对多个元素进行选配。（SEA5200为220mm×150mm） ● 可同时对Na（11）～U（92）之间的多个元素进行测量分析。 ● 具有完备的定量分析软件。（*块状基础参数 *薄膜基础参数 *薄膜检量线） |