NanoMan II 系统
新 NanoMan II 系统结合上融入 Hybrid XYZ Scanner ， 能够提供纳米（水平方向）或埃（垂直方向）级的分辨率，与电子显微镜（ EM ）相当，比常规光学显微镜放大倍率高两个数量级，而样品制备、安装以及光学性能则与常规光学显微镜相差无几。混合型 XYZ 扫描器将 Z 传感器的噪音水平降低 6 倍，提供精确的 X/Y 控制用于分子操纵以及高精确度的三轴向闭环控制用于分子 “ 牵引 ” 技术。 。在联合了已有的可靠操作平台和新设计特征后， NanoManII 成为最高级的可以直接用于纳米操纵和高精确度的纳米刻蚀的商用扫描探针显微镜系统