MCH系列电脑膜层测厚仪

  MCH系列电脑膜层测厚仪是高新技术的结晶。他采用微机技术,精度高,数字显示,示值稳定,功耗低,操作方便,无校正旋钮,单探头全量程测量,体积小重量轻。具有存贮,读出,统计,低电压指示、上下限报警功能。其性能达到国际同类产品领先水平。
   本仪器采用磁性测厚法,方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬镀层,或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑,沥青等涂层厚度,该仪器广泛用于机械、汽车、造船,石油、化工、电镀、喷涂、搪瓷等行业。是铁磁材料保护层质量检测的必备工具。

技术指标

型号 MCH-2001(J) MCH-2002(J)
(高精度)
MCH-2003(J)
(宽量程)
MCH-2004(J)
测量范围(μm) 0-5000 0-450.0 50-10000 0-3000
测量误差 <3%+1um <3%+0.5um <3%+10um <3%+1um
最小示值 1um 0.1um 10um 1um
显示方式 7位液晶数字显示






测量 单探头全量程测量
存贮 可存入测量数据800个
读出已存入测量数据
统计 显示已存数据最小值、均值、最大值
电  源 5#干电池3节
功  耗 最大功耗100mw
外形尺寸 134*72*31*mm
重  量 150g
使用环境 温度:-10℃~+40 相对湿度:不大于90%
备注:可配专检测内防腐的伸缩式长柄探头(1米左右)