LEPTOSKOP 2040
普通型 LEPTOSKOP 2040
根据厚度测量，LEPTOSKOP 2040提供与袖珍型仪器相似的功能，不同的只是外部探头。
LEPTOSKOP 2040可根据不同的检测问题采用多种不同的探头与之匹配。
第一台 LEPTOSKOP (1950)
涂层测厚是公司的创立者KARL DEUTSCH先生进行开拓性工作的结晶。
自从1950年推出的第一台LEPTOSKOP及随后的研发工作，才有了目前的LEPTOSKOP。
"LEPTOSKOP" 系列
(多种层厚测量仪)
技术数据
KARL DEUTSCH LEPTOSKOP 利用磁感应的方法确定铁磁基体上的非铁磁层的厚度。 KARL DEUTSCH 提供的仪器（2020/2030）只适用于磁感应方法，带有联合探头的仪器（2025/2035/2040/2050）允许按两种方法检测。这些创新仪器将自动检测基体材料的类型，并将选择合适的测量方法，且不用更换探头。
袖珍式 LEPTOSKOP 2020/2025
紧凑的设计和低价格使得这种仪器成为工业生产中检查清漆涂层或塑料分层工作的最佳选择。
轻便的可单手操作，整合的探头是这台仪器的基本特征。使用联合探头的LEPTOSKOP 2025可
采用磁感应方法或涡流方法。
袖珍型 LEPTOSKOP 2030/2035
2020/2025系列有一个数据记录器，两种仪器的尺寸和重量相似。能存储99组的1021个测量
值；极限值信号，检查报告和统计功能（最小，最大，平均值）串口线保证仪器与PC相连。
通讯软件 STATUS（DOS或WINDOWS平台下）可以进行数据处理。
2030型仪器采用磁感应方法，2035使用联合探头采用两种检测方法。
LEPTOSKOP 探头
基体材料类型确定了测量原理和探头类型。为了得到更精确的结果，可选择与层厚相应
的探头。微探头可以在很小的物体上检测。角度探头使得检测到工件盲区成为可能。
双杆探头（只限磁感应）适于测量厚度层达12.5mm。（如铁基体的粘和层）
包括数据储存，统计和串口线。所有LEPTOSKOP仪器的校准都很简便。另外的校准设施包括专利DBPDE 340472062，允许在一个不知厚度的涂层校准。每批操作都要进行不同的校准，以避免工件在多种测量条件下的再校准。
PC-LEPTOSKOP 2050
PC-LEPTOSKOP仪器的所有操作是方便简单的IBM兼容机的操作、探头和通讯软件STATUS。 STATUS 在屏幕上产生一个实际的厚度层。整个的硬件集成在探头内，非常小，和LEPTOSKOP 2040具有相同的尺寸。它只测量5cm长和1cm外径。
软件简单易用，且可在英语、德语界面下操作。
请注意: 一个PC-LEPTOSKOP探头连接到LEPTOSKOP 2051 Hand Terminal (代替计算机）可以象一个轻便的层厚测量仪使用。
典型的STATUS屏幕显示
(当前测量值，选择批和图表显示）
LEPTOSKOP 技术数据
测量方法
磁感应式 (2020/2030)
磁感应式或涡流式 (2025/2035/2040/2050)
电源
1*1.5 V(2020/2025/2030/2035)
2*1.5 V(2040)
通过PC (2050)
电池操作时间
70小时 (2020/2025/2030/2035)
33小时 (2040)
不在2050上应用
数据存储
不应用于2020/2025
1021 值(2030/35)
3850 值(2040)
硬盘空间许可 (2050)
测量范围
0....1250 mm (2020/2025/2030/2035)
0..125000 mm, 根据探头不同而定 (2040/2050)
2020/2025/2030/2035涂层测量的不确定性
100um以下: +/-2um
100um以上: 1..3 % +/-1um
2040/50涂层测量的不确定性
100um以下: 1 per cent +/-1um (标准/微探头)
100um以上: 1..3 % +/-1um (标准/微探头)
500um以上: 1..3 % +/-10um (双杆探头)
10000um以上: 1..5 % +/-10um (双杆探头)
尺寸 (mm)
93 X 46 X 16 (2020/2025/2030/2035)
151 X 83 X 35 加上探头 (2040)
只有探头 (2050)
重量 (包括电池)
79g (2020/2025/2030/2035)
286g (2040)
只有探头 (2050)
环境
操作温度0..45摄氏度
存放温度-20..45摄氏度
接口 (2030/2035/2040/2050)
RS232 串口线, 4800 波特
对STATUS的支持
Dos 3.11 或更高版本, 80286, 64 kB RAM (DOS version)
或 Windows 3.1 或更高版本, 80386, 4MB Ram (Windows version)
LEPTOSKOP 2051
手持式终端
在 PC-LEPTOSKOP命名下，KARL DEUTSCH 公司开始提供膜层测厚装置的探头，它可
和普通PC的串口线相连。 正常膜层测厚仪的仪器功能均可通过与WINDOWS操作系统
匹配的PC软件接收。在PC显示器上，可显示仪器，所有功能可通过键盘或鼠标的点击完成。探头无需额外的电源：除了有检测铁磁基体表面的非磁性涂层和电导体材料的非导电层（厚达1200 mm ）的探头外，还有高检测精度的微探头，适用于不同结构的小零件以及探测12mm厚的双杆探头和其他大量的附件。
新型的手持式电池操作终端LEPTOSKOP 2051,所有的PC-LEPTOSKOP探头可以不带PC操作：探头可简单的插入手持终端。LEPTOSKOP 2051有普通测厚仪具备的功能。这个仪器甚至可以单手操作。测量值显示菜单相对于LC显示很大。需要的仪器功能可简单的从屏幕选择，通过按ENTER键予以确认。按两个可选择的键可以很快的进入经常使用的功能，在使用中可自由的选择和转换。
LEPTOSKOP 2051 拓宽了PC探头的使用范围，应用最新的传感技术和数字输出：同样的探头技术与多样性，还有用于主要的台式PC操作、生产装配车间、工地使用的探头。新型的LEPTOSKOP 2051与传统的仪器相比具有相对的经济性，另外,它保持了所有与PC连接的元件和现代的传感技术。
钢管测量的应用
为了测量钢管涂料KARL DEUTSCH 提供使用特殊探头测量。
定位装置
您需要测量小零件的层厚或钻孔、排架表面吗？我们的微探头能解决您的问题。几毫米的测量点已经足以测量出可靠的测量值。
然而，如果操作者需要将探头精确的放到零件定义的点上，可能会遇到困难，此时就需要用我们的定位装置来解决：
定位装置使得所有微探头精确可靠的放置。它使用气动校直线操作操纵器，其结果是即便是在复杂的表面形状也会得到良好的重复性和精确性。