Dektak 8可编程的台式探针轮廓仪 　　 Dektak 8台阶式探针轮廓仪，结构紧凑，可提供很高的重复性和精度。独特的X–Y方向定位系统可移动到8 x 8 inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理，还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak 8系统对于MEMS，纳米技术和半导体应用都非常方便。