COS-MOS型荧光X线镀层测厚仪(膜厚計)

生产厂家：日本电测公司

● Windows下中文操作界面
● 紧凑 小巧，低成本
● 解析度 0.001μm
● 最小测量面积 0.1mm?
● 可测量 合金层的厚度以及成分比例
● 对于多层镀层可测量每一层精确厚度
● 可通过 X线进行元素光谱分析
● 适用对象 ： IC 导线架、封装业
　　PCB 业 、精密零件业
　　电镀业、电子业