CH－1－S型薄膜测厚仪 一、 概述 本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 二、主要参数 1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm 2. 上测头曲率半径：15-50mm 3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N 4. 测量精度：100vm以内＜1vm 100-250vm＜2vm 250vm＜3vm