AMS-7000 Series机械扫查式超声波显微镜
		试料表面、接近表面层、内部结构的观察、及材料特性的测定。 · 20MHz～500MHz的频率范围使得被检测物体表面及内部的特征毫无遗漏。· 从20MHz～500MHz的频率可实现以0.1MHz的幅度调节，可根据物体材料特性寻找最适合的检测频率。· 同一场合下，超声波显微镜比光学显微镜的可观测精度更高，细节更明晰，且操作要方便许多。
		型号 AMS-7300 AMS-7500 AMS-7510 扫查方式 传感器电磁驱动扫查 传感器电磁驱动扫查或手动扫查切换 工作频率 100MHz～200MHz1MHz为单位调节 100MHz～500MHz0.1MHz为单位调节 20MHz～500MHz0.1MHz为单位调节 传感器 170MHz 170MHz、400MHz 25MHz、170MHz、400MHz 方位分辨率（媒质：水） 约5～10μm 约2.5～10μm 约2.5～60μm 视野范围 0.5mm（0.48×0.48）1.0mm（0.96×0.96）2.0mm（1.92×1.92） 0.25mm（0.24×0.24）0.5mm（0.48×0.48）1.0mm（0.96×0.96）2.0mm（1.92×1.92） 0.25mm（0.24×0.24）0.5mm（0.48×0.48）1.0mm（0.96×0.96）2.0mm（1.92×1.92）0.24～19.92mm（0.24为单位连续可调） 扫查时间 8秒 扫查场合18分钟，3分（视野为4.8mm时）电磁扫查场合（视野为0.25、0.5、1.0、2.0mm等时） 图象显示 CRT×2 CRT×2， CRT×1 功耗 AC100V，50/60Hz，300VA AC100V，50/60Hz，1KVA 外形尺寸 1356（高）×2700（长）×800（宽）