光纤位移／振动测量仪TS-2010

TS - 2010系统是一个无接触型高分辨率的光纤测量系统。它经改进， 具备了一些新特性和新性能，满足了严格的位移和振动应用测量需求。它的新性能标准包括高达0.01微米的分辨率以及从直流（DC）到150 kHz的频率响应范围。用户自定义性能使该系统的设置和操作都非常简单。TS-2010的设计具有较强的灵活性，能够通过一系列可互换的光学探头来满足各种特殊需求。光纤传感器探头是抗电磁干扰（EMI）的并适用于任何表面或材质：金属、非金属、复合材料、塑料、玻璃、陶瓷或液体。用户可利用其双通道性能用两个探头进行同步测量，这对结构动力学的研究尤其重要。针对这些增加的多功能性，所有探头模块都设计为可适用于两种不同的作业需求，一个要求高分辨率，另一个要求更广的范围。每个探头模块都有完整的高通和低通滤波器可以减少干扰提高分辨率。

工作距离: 100um ~10mm
最大测量振幅: ±100um ~ 1mm
频宽: DC to 150kHz
测点直径: 1mm
分辨率: 10nm
* 规格可根据用户需求进行更改