JW-K孔径分布及比表面积测定仪

许多超细粉体材料的表面是不光滑的,甚至是多孔的,而且其孔的大小、形状、数量与它的表面特性有密切关系,因此,除了测定比表面外,测定粉体材料表面微孔的孔径分布亦具有重要意义。
国际理论与应用化学协会曾把这些微孔按尺寸大小分为三类:小微孔,孔径≤2nm;中微孔,孔径2-50nm;大微孔,孔径≥50nm;其中中微孔具有最普遍的意义,用氮吸附方法测定孔径分布正好能满足这一孔径范围。
氮吸附法测定比表面及孔径分布都是利用氮的等温吸附特性:在液氮温度下,氮分子在材料表面的物理吸附量取决于氮气的相对压力P/P0,其中P为氮气分压,P0为液氮温度时氮的饱和蒸气压,当P/P0在0.05~0.35范围时,吸附量与P/P0符合BET方程,以此为基础,成为比表面测定的依据;当P/P0≥0.4时,由于产生了毛细凝聚现象,吸附量与表面微孔的尺寸相关,以此为基础,则成为测定孔径分布的依据。


仪器主要特点:
1.采用氮吸附方法,在一台仪器中实现更多的测试功能:
Ⅰ、直接对比法快速测定比表面积;
Ⅱ、BET法测定比表面积;
Ⅲ、全程测定氮吸附或脱附等温曲线;
Ⅳ、测定超细粉体材料表面的孔径分布(孔隙率),包括体积分布、表面积分布,孔隙的总体积、总面积及平均孔径;
2.采用了最先进的技术,从压力到流量实现氮气分压从0至100%的全程精确控制,孔径测试范围可从1nm至50nm;
3.气路系统的巧妙设计,无须任何复杂的程序即可实现各种测量方法和功能的选择。
☆☆ 与国内外同类仪器相比:功能更全,小巧美观,性价比最高。