技术指标:
分 析 范 围: 1PPM-99.99%
同 时 分 析: 几十种元素同时分析
测镀层厚度精确至: 0.01微米
测 量 对 象: 固体、粉末、液体
测 量 时 间: 60-300 秒
测 量 精 度 : 0.05%
分 析 元 素: Na-U
工 作 温 度: 15-26℃
相 对 湿 度: ≤70%
重 量 : 30KG
电 源: AC 110V/220V
功 耗: 100瓦
仪 器 配 置:
单样品腔
真空泵(可选)
压片机(可选)
硅针半导体探测器(美国产)
放大电路(美国产)
高低压电源(美国产)
X光管(美国产)
1、携带方便
2、精度高
3、现场分析
可以在现场对任意形状的
样品进行元素成分的分析 |